FE3000设备服务为先

FE3000反射式膜厚量测仪:主要测试项目：量子效率测定，量子效率的激发波长依赖特性，发光光谱、反射光谱测定，透过、吸收光谱测量，PL激发光谱，颜色演算（色度、色温、演色性等）利用二次激发荧光校正功能去除再激发荧光发光。

解析非线性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/适化法

基板解析/里面反射补正/各类nk解析模型式

绝i对反射率/解析结果Fitting/折射率n的波长相关性/消光系数k的波长相关性

3D显示功能（面内膜厚分布、鸟窥图、等高线、断面图）

积分***/半球 ，在遭受到强大的冲击力后有可能会产生变形甚至损坏。对于这种情况，我司将不承担责任。积分半球的内侧涂有***i钡或者是Spectralon，受到污染后如需要交换可与我司联系。货期大约为1.5个月左右。

关于冷却水的更换没有特定的时间要求，可目视，发现水有污垢时请更换冷却水。更换时请用自来水或是软水（不可使用纯水，如使用纯水，会和空气中的CO2结合形成酸性环境，从而导致冷却装置内部遭到腐蚀）。

产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。

应用范围■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有机EL)

■ 半导体、复合半导体

?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料

■ 资料储存

?DVD、磁头薄膜、磁性材料

■ 光学材料

?滤光片、抗反射膜

■ 平面显示器

?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

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